面部識別、從圖像的特征提取等)、以及改善機器人及其環境之間的交互的機器人學在內的很多領域有用。但是，仍然有很多與sli相關聯的未解決的問題。技術實現要素：本申請一方面提供了一種激光源。該激光源包括：襯底；一個或多個***垂直腔面發射激光器(vcsel)結構，一個或多個***vcsel結構在襯底的表面上，其中每個***vcsel結構具有***孔徑寬度，并且每個***vcsel結構單獨地在襯底的表面上方延伸；以及一個或多個第二vcsel結構，一個或多個第二vcsel結構在襯底的表面上，其中每個第二vcsel結構具有不同于***孔徑寬度的第二孔徑寬度，并且每個第二vcsel結構單獨地在襯底的表面上方延伸。本申請另一方面提供了一種光投影儀系統。該光投影儀系統包括：激光源，被配置為生成向物體發送的輻射，以及圖像傳感器，被配置為接收從物體反射的輻射。該激光源包括：襯底，一個或多個***vcsel結構，一個或多個***vcsel結構在襯底的表面上，其中每個***vcsel結構具有***孔徑寬度，并且每個***vcsel結構單獨地在襯底的表面上方延伸，以及一個或多個第二vcsel結構，一個或多個第二vcsel結構在襯底的表面上，其中每個第二vcsel結構具有不同于***孔徑寬度的第二孔徑寬度。菲涅爾透鏡投影儀生產廠家電話多少？珠海led菲涅爾透鏡

菲涅爾透鏡使用普通的凸透鏡，會出現邊角變暗、模糊的現象，這是因為光的折射只發生在介質的交界面，凸透鏡片較厚，光在玻璃中直線傳播的部分會使得光線衰減。如果可以去掉直線傳播的部分，只保留發生折射的曲面，便能省下大量材料同時達到相同的聚光效果。菲涅爾透鏡就是采用這種原理的。菲涅爾透鏡看上去像一片有無數多個同心圓紋路（即菲涅爾帶)的玻璃，卻能達到凸透鏡的效果，如果投射光源是平行光，匯聚投射后能夠保持圖像各處亮度的一致。東莞紅外 菲涅爾透鏡菲涅爾透鏡玻璃包括哪些構件？

b)為高斯聲波經過聚焦透鏡的聲壓場測試結果，(c)為高斯聲波經過發散透鏡的聲壓場測試結果，(d)為高斯聲波經過偏折透鏡的聲壓場測試結果，(e)為高斯聲波經過高透射透鏡的聲壓場測試結果；圖9是本實用新型實施例中旋轉可調的多功能二維聲學超材料透鏡在4000hz下的實驗結果，(a)為高斯聲波在空氣中的聲壓場測試結果，(b)為高斯聲波經過聚焦透鏡的聲壓場測試結果，(c)為高斯聲波經過發散透鏡的聲壓場測試結果，(d)為高斯聲波經過偏折透鏡的聲壓場測試結果，(e)為高斯聲波經過高透射透鏡的聲壓場測試結果；圖10是本實用新型實施例中旋轉可調的多功能二維聲學超材料透鏡在9000hz下的實驗結果，(a)為高斯聲波在空氣中的聲壓場測試結果，(b)為高斯聲波經過聚焦透鏡的聲壓場測試結果，(c)為高斯聲波經過發散透鏡的聲壓場測試結果，(d)為高斯聲波經過偏折透鏡的聲壓場測試結果，(e)為高斯聲波經過高透射透鏡的聲壓場測試結果。具體實施方式下面結合實施例和說明書附圖對本實用新型作進一步的說明。以下實施例*是本實用新型的推薦實施方式，應當指出：對于本技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本實用新型原理的前提下，還可以做出若干改進和等同替換。

圖3示出了根據實施例的光源202或者光源202的至少一部分的自頂向下的視圖。光源202包括襯底302，該襯底具有布置在襯底302的表面上的多個vcsel結構304。在一些實施例中，襯底302可以是：包括第iv族半導體材料(例如，si、ge、sige)、第iii-v族半導體材料(例如，gaas、gaassb、gaasin)、和/或根據本公開將明白的任何一種或多種其他適當材料的大塊襯底；絕緣體上的x(xoi)結構，其中，x是前述材料(例如，第iv和/或iii-v族半導體材料)之一，絕緣體材料是氧化物材料或介電材料或者一些其他電絕緣材料，從而xoi結構包括兩個半導體層之間的電絕緣材料層；或者一些其他適當的多層結構，其中，頂層包括前述半導體材料(例如，第iv和/或iii-v族半導體材料)之一。這里使用的“第iv族半導體材料”(或“第iv族材料”或統稱“iv”)在包括至少一種第iv族元素(例如，硅、鍺、碳、錫)，例如，硅(si)、鍺(ge)、硅鍺(sige)等。這里使用的“第iii-v族半導體材料”(或“第iii-v族材料”或統稱“ii-v”)包括至少一種第iii族元素(例如，鋁、鎵、銦)和至少一種第v族元素(例如，氮、磷、砷、銻、鉍)，例如，砷化鎵(gaas)、砷化鎵銦(ingaas)、砷化鋁銦(inalas)、磷化鎵(gap)、銻化鎵(gasb)、磷化銦。菲涅爾透鏡常見問題有哪些？

適當的結構化光投影儀通常包括激光設備，該激光設備采用衍射圖案實現期望的結構化光圖案。一個示例激光設備是結合激光條紋使用的垂直腔面發射激光器(vcsel)。但是，存在與這種配置相關聯的局限。例如，使用激光條紋獲取精確的剖面信息的局限主要歸因于與激光相關聯的噪聲和采樣誤差，因為激光條紋的中心可能不是在相機的像素中心成像并且可能不是檢測到的強度峰值。當在圖像上定位激光條紋的中心時出現采樣誤差。存在嘗試從激光條紋提取相關信息的諸如，比較大強度、強度中心、高斯擬合、以及過零點之類的圖像處理技術。與這些技術中的若干技術相關聯的問題在于，其給出了比較高峰值的位置，但是該位置不是條紋的真實中心。與激光相關聯的噪聲主要采取激光斑點的形式，該激光斑點當從該部分的表面被反射出來時是激光的強度剖面的振蕩并且是由激光的相干導致的?？梢允褂脤邮盏膱D像的數字后處理來補償激光斑點。但是，這會是計算密集的并且導致相對較高的功率消耗，并且進一步導致3d圖像的創建的延遲。因此，根據本公開的實施例，結構化光投影儀采用新型激光源設計，該激光源設計在相對于標準技術不增加計算負擔的條件下減少或基本消除了激光斑點。另外。菲涅爾透鏡歷史檢測技術。應用菲涅爾透鏡供應

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本申請大體涉及成像領域，具體地涉及高計算效率的結構化光成像系統。背景技術：創建3d圖像的一種途徑被稱為結構化光照明(sli)技術。在sli技術中，光圖案被投射到3d物體表面上。sli系統包括相機和投影儀(照明器)。3d物體被放置在與投影儀和相機相距預定距離的參考平面上。在使用中，投影儀將結構化光圖案投射到3d物體表面上。結構化光圖案可以是一系列條紋線或網格或任何其他圖案。當結構化光圖案被投射到3d物體表面上時，其被3d物體表面扭曲。相機捕捉在結構化光圖案中具有的扭曲的3d物體表面的圖像。然后，圖像被存儲在圖像文件中，以供圖像處理設備處理。在一些情況下，多個結構化光圖案被投影儀(照明器)投射到3d物體表面上，并且具有結構化光圖案的3d物體的多個圖像被相機捕捉。在圖像文件的處理期間，對結構化光圖案中的扭曲進行分析，并且執行計算以確定3d物體表面上的各個點相對于參考表面的參考測量結果。這種圖像處理使用標準測距或三角測量方法。相機和投影圖案之間的三角測量角導致與表面的深度直接相關的扭曲。一旦這些測距技術被用來確定3d物體表面上的多個點的位置，則3d物體的3d數據表示即可被創建。3d物體的數字再造在包括圖像識別(例如。珠海led菲涅爾透鏡

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