表面絕緣電阻（SIR）IPC-TM-650方法定義了在高濕度環境下表面絕緣電阻的測試條件。SIR測試在40°C和相對濕度為90%的箱體里進行。樣板的制備和ECM測試一樣，都是依據方法制備（如圖1）。***版本的測試要求規定每20分鐘要檢查一次樣板。在七天的測試中，不同模塊之間的表面絕緣電阻值衰減必須少于10Ohms，但是要排除**開始24小時的穩定時間。電壓是恒定不變的。這和ECM測試在很多方面不一樣。兩者的不同點是：持續時間、測試箱體條件和頻繁測量數據的目的。樣板同樣需要目測檢查枝晶生長是否超過間距的20%和是否有任何腐蝕引起的變色問題。SIR測試目的更改清潔材料或工藝。陜西sir電阻測試牌子

陽極溶解過程從材料熱力學觀點看，通過金屬材料的標準電極電位可以判斷其腐蝕的傾向，常見的電子金屬材料發生電化學遷移的優先順序為：Ag>Mo>Pb>Sn>Cu>Zn[8]。因此，當電阻貼裝的焊料為Sn-Pb合金時，在電化學遷移過程中，Pb比Sn更容易發生電化學遷移。在電化學遷移過程中，在陽極區主要發生電極溶解生成金屬離子的反應，同時伴有少量氧氣和氯氣的生成，反應方程式如下：Pb→Pb2++2e-Sn→Sn2++2e-Sn2+→Sn4++2e-2H2O→4H++O2+4e-2Cl-→Cl2+2e-從上述反應過程可知，通過抑制陽極溶解可以改善電化學遷移的敏感性。首先陽極溶解必須在電解液中發生，因此避免工作面潮濕顯的尤為重要，而此產品的灌封膠工藝存在缺陷，給潮濕水汽的進入留有空間，提供了電化學遷移的通道，構成了電化學遷移的必要條件之一。陜西智能電阻測試供應商GWHR-256多通道 SIR/CAF實時監控測試系統適用于IPC-TM-650標準，測試速度 20mS/所有通道。

什么是導電陽極絲測試CAF導電陽極絲測試（Conductiveanodicfilamenttest，簡稱CAF）是電化學遷移的其中一種表現形式。它與表面樹狀生長的區別：1.產生遷移的金屬是銅，而不是鉛或者錫；2.金屬絲是從陽極往陰極生長的；3.金屬絲是由金屬鹽組成，而不是中性的金屬原子組成。焊盤中的銅金屬是金屬離子的主要來源，在陽極電化學生成，并沿著樹脂和玻璃增強纖維之間界面移動。隨著時代發展和技術的革新，PCB板上出現CAF的現象卻越來越嚴重，究其原因，是因為現在電子設備上的PCB板上需要焊接的電子元件越來越多，這樣也就造成了PCB板上的金屬電極之間的距離越來越短，這樣就更加容易在兩個金屬電極之間產生CAF現象。

銅鏡和銅板腐蝕測試了助焊劑或者助焊劑殘留物里面離子之間的反應分別對電化學遷移的潛在影響。***，鹵化物含量測量表明了助焊劑中多少的離子來自鹵離子。需要注意的是這是有別于無鹵和低鹵助焊劑的要求。也需要提供附加測量值，比如助焊劑黏度、酸值固體物含量等根據J-STD-004定義的附加測試方法的測試結果。當供應商提供了助焊劑活性等級，相當于給了工程師一個規格，這個規格定義了在標準條件下助焊劑的表現如何，這其中包括了指定的溫度循環和測試板。這有別于在特定設計和工藝中認證助焊劑。某些助焊劑等級的測試方法可以修改，以適應其設計特性。但是這些修改可能改變預期的結果，并且會影響到測試合格/失敗的極限。保障好用戶的利益就是我們價值體現。

表面絕緣電阻測試（SIR測試）根據IPC的定義，表面絕緣電阻(SIR)是在特定環境和電氣條件下確定的一對觸點、導體或接地設備之間的絕緣材料的電阻。在印刷電路板(PCB)和印刷電路組件(PCA)領域，SIR測試——通常也稱為溫濕度偏差(THB)測試——用于評估產品或工藝的抗“通過電流泄漏或電氣短路（即樹枝狀生長）導致故障”。SIR測試通常在升高的溫度和濕度條件下在制定 SIR 測試策略時，選擇用于測試的產品或過程將有助于確定**合適的 SIR 測試方法以及**適用的測試工具。一般而言，SIR 測試通常用于對助焊劑和/或清潔工藝進行分類、鑒定或比較。對于后者，SIR 測試通常用于評估一個人的“免清洗”焊接操作。執行，例如85°C/85%RH和40°C/90%，并定期獲得絕緣電阻(IR)測量值。測量離子與非離子污染物對PCB可靠性的影響，其效果遠比其它方法（如清潔度試驗、鉻酸銀試驗等）有效方便。湖南電阻測試推薦貨源

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剖面結構觀察通過SEM觀察失效電阻鑲樣的橫截面，如圖4所示。由圖4可發現：電阻一端外電極有一個明顯的腐蝕凹坑，這是由電化學反中陽極溶解所產生的，腐蝕形態主要為點蝕。根據文獻[5]報道，在電解液中存在Cl-的電化學過程中，陽極表面的鈍化膜易溶解于含Cl-的溶液中，或Cl-直接滲透陽極表面的鈍化膜，造成鈍化膜開裂或形成微孔誘發局部腐蝕，**終形成點蝕坑的腐蝕形貌。電化學遷移失效復現根據失效分析，得出離子、潮氣及電場為失效的敏感因子，故設計故障復現試驗。將樣品分為兩組，1000h潮熱加電實驗。陜西sir電阻測試牌子

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