接觸電阻即針座尖與焊點之間接觸時的層間電阻。通常不能給出具體的指標，因為實際的接觸電阻很難測量。一般，信號路徑電阻被用來替代接觸電阻，而且它在眾多情況下更加相關。在檢測虛焊和斷路的時候，針座用戶經常需要為路徑電阻指定一個標稱值。信號路徑電阻是從焊點到測試儀的總電阻，即接觸電阻、針座電阻、焊接電阻、trace電阻、以及彈簧針互連電阻的總和。但是，接觸電阻是信號路徑電阻的重要組成部分。測試信號的完整性需要高質量的針座接觸，這與接觸電阻（CRes）直接相關。針座可以使異形轉輪對活動板間歇式施加壓力。江門2.0立貼針座規格參數

清潔機針座。該清潔機針座包括:針盤和固定在針盤底面的針面;針盤和針面密布有多個呈圓形矩陣分布的貫穿排水孔;針盤包括:環形盤面和位于環形盤面中部的卡接凸起，環形盤面還具有多層沿周向分布的凸起擋水圈。由于該針座密布有多個貫穿的排水孔，使得清潔液能夠通過該排水孔流入清潔織物參與清潔，提高了清潔液的利用率，然后提高了清潔的質量;針盤加強筋的設置和針座的一體成型結構提高了針座的機械強度，延長了使用壽命。組裝方便，外觀整潔美觀，工作高效，兼具多種功能，能夠充分滿足用戶對多功能移動音箱設備的需求。汕頭20p針座針座提高了產品效果及防護等級。

針座為研究和工程實驗室在測試運行期間移動通過多個溫度點時，提供前所未有的自動化水平。這種新技術使針座系統能夠感知，學習和反應以多溫度和特征的極其復雜的環境。隨著集成電路產品不斷進入汽車應用等更高發熱量的環境，在越來越寬的溫度范圍內表征器件性能和耐用性變得越來越重要。以前，大多數芯片在兩個溫度點進行晶圓級測試，通常為20?C（室溫）和90?C。現在，該范圍已經擴大到-40?C至125?C，并且可能需要在此范圍內的四個溫度步驟中進行一整套測試。某些情況下需要更普遍的范圍，如-55?C至200?C，晶圓可靠性測試可能要求高達300?C的溫度。

針座主要用途是為半導體芯片的電參數測試提供一個測試平臺，針座可吸附多種規格的芯片，并提供多個可調測試及探卡測試針臺座，配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數檢測。半導體指常溫下導電性能介于導體與絕緣體之間的材料。根據導電性，材料被分為像銅一樣導電的導體，像陶瓷一樣不導電的絕緣體，還有導電性介于兩者間的半導體。近，“半導體”也常被用來稱呼利用半導體的特性制成的集成電路。針座降低了勞動量，產品質量穩定，能有效提高產品合格率。

線路板測試治具針座組，包括直探針板，彈簧板和針座底架，彈簧板上設有若干彈簧孔，彈簧置于彈簧孔中，彈簧與對應線針導通，探針設于直探針板中，直探針板處于彈簧板的上方，探針對應于彈簧的上方，通過直探針板對線路板的擠壓使探針下移接觸到彈簧上端，從而實現導通，彈簧下方設有與彈簧孔對應的第1線孔，測試時，第1線孔位置相對彈簧孔固定，線針可解鎖地滑動鎖定于第1線孔中。該線路板測試治具針座組能有效降低測試治具的制作成本和制造時間，且結構合理，工作可靠。針座能同時進行兩個連接器針座產品的自動化組裝，提高了產能。2.0雙排 針座制造廠商

針座可實現將連接器針座的各部件自動組裝成連接器針座產品。江門2.0立貼針座規格參數

孔座針座組件，包括針座和孔座，針座插入在孔座內部，在針座的側部設有防呆柱，在孔座側部設有與防呆柱配合的防呆槽，防呆柱為縱向設置的長方體防呆柱，防呆槽包括滑槽部以及與滑槽部連接在一起的深槽部。優點體現在:通過防呆柱及防呆槽的配合設計，使得產品在對配的過程中能夠防止錯誤裝配，有效提高預防錯誤裝配的能力。提高了該裝置的適用性，通過電機帶動異形轉輪轉動，可以使異形轉輪對活動板間歇式施加壓力，通過在裝置的一側不斷的將半成品夾持在傳送裝置上的夾持板之間。江門2.0立貼針座規格參數