英國雷尼紹RENISHAW測針：TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應變片傳感器，實現優異的重復性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數百萬次觸發中的可靠操作。TP200B采用的技術與TP200相同，但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標測量機傳導振動或在移動速度很高的情況下使用長測針所引發的誤觸發問題。直測針是較簡單、較常用的測針類型。浙江RENISHAW-機床測頭專賣店

如何合理選擇測針？連接點的選擇。由于測針與加長桿連接在一起時會引入了微觀彎曲和變形點，因此在配置測針時應該盡量減少連接點，盡可能減少接長桿的連接數目以減小累積誤差。測量孔徑時的選擇。對于10mm以上的孔徑，要是孔不長，用φ2、φ3，φ4mm的測針都是一樣的，要是孔很長且要打全的話，那就要4mm的測針了，這樣測就不容易碰桿。另外，測量平面度時為減少表面微觀不平度的影響，也要優先選擇大球徑測針。測頭的校正。測頭校正是保證測量精度的基礎，在測頭校正過程中引起誤差的主要因素有：測桿的彎曲變形，測頭校正時觸測點位置，測力，觸測速度和探測距離等，測力越小精度越低，應選用一定的測力和測速進行校正，同時選用合適的探測距離，以保證校正精度。浙江RENISHAW-機床測頭專賣店測針通過這些點計算出特征、尺寸、形狀及位置。

采用粗糙度儀測針描法原理的粗糙度儀是由傳感器，驅動器，指規，記錄儀和感應傳感器組成的粗糙度儀的主要組件之一。將鉆石筆放置在傳感器桿的一端，并使用筆的筆尖半徑。r十分小，在丈量過程中將測針放置在工件上，而且與待測外表垂直觸摸，而且傳感器用于以一定速度拖動傳感器。因為測得的外表概括峰和谷崎嶇，因此當觸摸外表滑動時，觸摸點將上下滑動。這種運動使磁芯通過支點同步上下運動，然后改變了圍繞磁芯的兩個差分電感的電感。傳感器的線圈和丈量線直接連接到平衡電橋。線圈電感的變化會導致電橋失去平衡，因此它會輸出一個與筆的上下兩頭的位移成比例的信號，而且這種弱功率會通過電子設備輸出。在將變化擴大并履行相敏檢測之后，粗糙度儀就會取得指示指示筆位移的巨細和方向的信號。

雷尼紹RENISHAW三坐標測針：與TP200一樣，但當出現誤觸發事件時。傳感器方向六軸：±X、±Y、±Z六軸：±X、±Y、±Z單向重復性(2sμm)觸發水平1：0.40μm觸發水平2：0.50μm觸發水平1：0.40μm觸發水平2：0.50μmXY（2D）輪廓形式測量偏差觸發水平1：±0.80μm觸發水平2：±0.90μm觸發水平1：±1μm觸發水平2：±1.2μmXYZ(3D)輪廓測量偏差觸發水平1：±1μm觸發水平2：±1.40μm觸發水平1：±2.50μm觸發水平2：±4μm測針交換的重復性SCR200：±0.50μm（較大）手動：±1μm（較大）SCR200：±0.50μm（較大）手動：±1μm（較大）測力（測尖）XY平面（所有模塊）：0.02NZ軸（所有模塊）：0.07NXY平面（所有模塊）：0.02NZ軸（所有模塊）：0.07N超程測力（位移為0.50mm時）XY平面（SF/EO模塊）。球形測針是應用較寬泛的測針類型。

三坐標測量機測針的選擇和校準：三坐標測量機的測量精度和工作效率與測針的校準和選擇緊密關聯，在進行測量工作之前必須要合理的選擇測針和對測針準確的校準，因為測針的測球有自己的尺寸，而測量零件的不同位置可能是用測球的不同位置去接觸零件的，因此，測量的數據中含有測球自己的數值，而測針校準就是測量測球自己尺寸大小的過程。特別是校準不同長度和位置的測針時測球校準結果球度誤差的大小對測量結果的影響至關重要。本文主要論述了三坐標測量機測針校準的原理和校準過程中應注意的問題以及合理選擇測針的原則。測針主要用于三坐標測量機、齒輪檢測儀、機床測頭上使用。浙江RENISHAW-機床測頭專賣店

為避免測針變形，您應當選用盡可能短的測針，尤其在使用觸發式測頭系統時。浙江RENISHAW-機床測頭專賣店

雷尼紹RENISHAW三坐標測針：TP200/TP200B測頭本體TP200采用微應變片傳感器，實現優異的重復性和的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數百萬次觸發中的可靠操作。TP200B采用的技術與TP200相同，但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標測量機傳導振動或在移動速度很高的情況下使用長測針所引發的誤觸發問題。請注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄/星形測針。TP200規格摘要TP200TP200B主要應用需要高精度的數控坐標測量機。浙江RENISHAW-機床測頭專賣店