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穩(wěn)定的晶圓讀碼器系列

來源: 發(fā)布時間:2024-08-02

在晶圓切片過程中,晶圓ID的讀取是一個重要的環(huán)節(jié)。通過讀取晶圓ID,可以獲取晶圓的相關(guān)信息,如晶圓編號、晶圓尺寸等,從而實現(xiàn)對晶圓的有效追蹤和識別。在切片過程中,晶圓ID的讀取通常采用光學(xué)識別技術(shù),通過特定的光學(xué)鏡頭和圖像處理算法,將晶圓上的標識信息轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號。讀取晶圓ID的操作通常由自動化設(shè)備或機器人完成,以避免人為錯誤和保證高精度。讀取的晶圓ID信息可以與生產(chǎn)控制系統(tǒng)相連接,實現(xiàn)對生產(chǎn)過程的精確控制和數(shù)據(jù)統(tǒng)計。例如,通過讀取晶圓ID,可以獲取晶圓的加工歷史記錄、質(zhì)量控制信息等,從而更好地了解晶圓的生產(chǎn)過程和質(zhì)量狀況。在晶圓切片過程中,晶圓ID的讀取是一個重要的環(huán)節(jié),可以實現(xiàn)對晶圓的有效追蹤和識別,為提高生產(chǎn)效率、降低成本、保證產(chǎn)品質(zhì)量提供了重要支持。


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IOSSWID120作為系統(tǒng)的重要部件,具有出色的讀碼速度和準確性。該讀碼器采用先進的圖像識別技術(shù),能夠迅速捕捉晶圓上的標識碼,并通過算法進行解析。其高速讀碼能力使得mBWR200系統(tǒng)能夠在短時間內(nèi)完成大量晶圓的讀碼任務(wù),大幅提高了生產(chǎn)效率。此外,IOSSWID120還具有高度的適應(yīng)性,能夠應(yīng)對不同尺寸、不同材質(zhì)的晶圓,確保在各種應(yīng)用場景下都能穩(wěn)定、可靠地工作。總的來說,mBWR200批量晶圓讀碼系統(tǒng)結(jié)合IOSSWID120高速晶圓ID讀碼器,為半導(dǎo)體制造行業(yè)提供了一種高效、準確、穩(wěn)定的晶圓讀碼解決方案,有助于提升企業(yè)的生產(chǎn)效率和質(zhì)量水平。靠譜的晶圓讀碼器牌子WID120高速晶圓ID讀碼器 —— 已在晶圓加工行業(yè)成熟應(yīng)用。

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  技術(shù):WID120晶圓ID讀碼器具備高分辨率、高速讀取、多角度仿生光源顯影等技術(shù)特點,能夠滿足各種挑戰(zhàn)性的晶圓OCR和二維碼讀取需求。創(chuàng)造性的集成RGB照明、全自動曝光控制、代碼移位補償?shù)忍匦源_保了讀取性能。易于集成:該設(shè)備具有簡單的圖形用戶界面,易于集成到各種工具中,且經(jīng)過現(xiàn)場驗證的解碼算法確保了快速可靠地解碼直接標記的晶圓代碼??煽磕陀茫涸O(shè)備經(jīng)過精密微調(diào)和附加外部RGB光源,可實現(xiàn)智能配置處理和自動過程適應(yīng),使其在各種具有挑戰(zhàn)性的表面上的代碼都能被輕松讀取。堅固的鋁制外殼和黑色陽極氧化處理也使其具備出色的耐用性。高效智能:自動照明設(shè)置、智能配置選擇、優(yōu)化解碼算法和自動過程適應(yīng)等功能,進一步提高了生產(chǎn)效率和可靠性,實現(xiàn)了產(chǎn)量MTBA/MTBF,減少了MTTR。定制化服務(wù)企業(yè)能夠根據(jù)不同客戶的實際需求進行定制化開發(fā)和配置,提供多樣化、定制化的產(chǎn)品和服務(wù),滿足市場的多樣化需求。

晶圓ID是指刻在晶圓背面用于標識晶圓編號的編碼。對于實際應(yīng)用,部分晶圓生產(chǎn)廠商會將晶圓ID刻在晶圓背面,在進行晶圓研磨前,就必須把晶圓ID寫在晶圓正面,才能保證研磨后,晶圓ID不丟失,以便在貼片時,通過晶圓ID讀取晶圓圖(wafermap),來區(qū)別晶圓測試為良品或不良品。晶圓讀碼通常采用光學(xué)識別技術(shù),通過特定的光學(xué)鏡頭和圖像處理算法,將晶圓上的標識信息轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號,從而實現(xiàn)對晶圓的有效識別和追蹤。晶圓讀碼的優(yōu)點包括高精度、高速度、高效率等,可以實現(xiàn)對晶圓的快速、準確識別和追蹤,提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。總之,晶圓讀碼是晶圓加工過程中不可或缺的一環(huán),對于確保晶圓的準確性和一致性具有重要意義。


mBWR200批量晶圓讀碼器系統(tǒng)——先進的批量晶圓讀碼器系統(tǒng)。

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晶圓加工是半導(dǎo)體制造過程中的重要環(huán)節(jié),主要包括以下幾個步驟:切片(Wire Saw Slicing):由于硅的硬度非常大,所以在本工序里,采用環(huán)狀、其內(nèi)徑邊緣鑲嵌有鉆石顆粒的薄片鋸片將晶棒切割成一片片薄片。研磨(Lapping):研磨的目的在于去掉切割時在晶片表面產(chǎn)生的鋸痕和破損,使晶片表面達到所要求的光潔度。外徑研磨(Surface Grinding & Shaping):由于在晶棒成長過程中,其外徑尺寸和圓度均有一定偏差,其外園柱面也凹凸不平,所以必須對外徑進行修整、研磨,使其尺寸、形狀誤差均小于允許偏差。蝕刻(Etching):利用化學(xué)反應(yīng)或物理方法,將晶圓表面不需要的部分移除。檢測與測試:對加工完成的晶圓進行檢測和測試,以確保其質(zhì)量和性能符合要求。高速晶圓 ID 讀碼器 - WID120,具有代碼移位補償功能。穩(wěn)定的晶圓讀碼器系列

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晶圓加工的多個環(huán)節(jié)都可能用到讀碼。具體來說,在晶圓加工過程中,從晶圓的初始加工到封裝測試,各個環(huán)節(jié)都可能涉及到讀碼操作。例如,在晶圓的初始加工階段,為了對晶圓進行準確的標識和追蹤,可能需要用到讀碼設(shè)備讀取晶圓上的ID標簽。在后續(xù)的加工過程中,如劃片、測試等環(huán)節(jié),也可能需要用到讀碼設(shè)備來讀取晶圓上的標識信息,以便于精確的控制和記錄各個加工步驟的信息。因此,可以說在晶圓加工的多個環(huán)節(jié)都可能用到讀碼操作。穩(wěn)定的晶圓讀碼器系列