GZPD-4D型分布式高壓電纜局部放電監測及評價系統是我公司結合多年局放監測技術研發及工程技術服務的豐富經驗、吸取GZPD-234型診斷式局部放電監測系統及國內外類似產品的技術亮點和用戶評價度而研制。GZPD-4D系統集成采集單元、云服務器、4G/5G傳輸、邊緣計算、分布式組網、TF-Map圖譜篩選（我司獲授權的軟著權“局部放電測試軟件V1.0”中的核心算法）、神經網絡、典型故障樣本數據庫等先進技術理念，成功應用于高壓電纜的耐壓試驗同步、在線運行狀態下短期的局部放電監測與評價，并通過中國電科院及其他專業機構的檢測認證后取得了“診斷型”報告證書GZPD-4D系列分布式局部放電監測與評價系統。高壓開關柜局部放電產生原因

傳統的局部放電監測儀,其測量信號的響應頻率一般不超過1MHz,易受外界干擾的影響,穩定性差，影響了其應用。隨著計算機技術、電子技術和傳感器技術的進步，為特高頻監測技術創造了條件，使其具有監測頻率高、抗干擾性強和靈敏度高，得到高度重視。GZPD系列手持式多功能局部放電監測儀，可以根據需求定制1~4通道并配置有1~5種傳感器，配置情況如下：1、AE、UHF和HF法適用于變壓器/電抗器/高壓電纜（終端為GIS時可用AE、UHF監測）的局部放電監測；2、AE/AA、HF和TEV法適用于對開關柜/環網柜的局部放電監測；3、AE和UHF適用于對GIS、HGIS、GIL的局部放電進行監測。內置的**診斷系統能根據監測數據進行分析，判斷放電能量大小和可能部位，在電力系統得到廣泛應用。超高壓局部放電監測維修局部放電可能發生在固體絕緣材料（紙、聚合物等）的空隙中。

三、遵循標準（但不限于下列標準）2.1GB/T7354高電壓試驗技術局部放電測量；2.2DL/T417電力設備局部放電現場測量導則；2.3DL/T846.4高電壓測試設備通用技術條件第4部分：脈沖電流法局部放電測量儀；2.4DL/T846.10高電壓測試設備通用技術條件第10部分：暫態地電壓局部放電檢測儀；2.5DL/T846.11高電壓測試設備通用技術條件第11部分：特高頻局部放電檢測儀；2.6DL/T1250氣體絕緣金屬封閉開關設備帶電超聲局部放電檢測應用導則；2.7DL/T1416超聲波法局部放電測試儀通用技術條件；2.8DL/T1630氣體絕緣金屬封閉開關設備局部放電特高頻檢測技術規范；2.9Q/GDW11059.1超聲波法局部放電帶電檢測技術現場應用導則

長期以來，進行變壓器/電抗器OLTC的測試一直采用直流方法測試，所獲取的波形與OLTC制造商例行測試波形進行比對，對OLTC現場測試起到了一定作用。由于OLTC制造商在車間例行測試是對裸開關進行測試，現場是變壓器帶繞組進行的測試，兩者差異很大。直流方法測試受測試技術方法和技術能力限制，現場OLTC測試有時會出現波形無法判讀等問題，各方面工程技術人員爭議很大，表現在以下幾個方面：2.2.1直流測試法*適用于繞組中性點處并有中性點抽出的OLTC測試，對繞組中性點以外其它位置(線端、中部等)處的OLTC及單相變壓器OLTC不能測試。2.2.2直流測試由于其測試原理、技術能力等原因，有時測試獲取的波形與制造商給出的波形差異較大，無法給出準確分析結論，OLTC反復吊出檢查與測試，影響新設備、大修后設備投運。為防止OLTC事故，甚至將無法判定OLTC是否存在缺陷的變壓器改做無載調壓變壓器運行。2.2.3部分直流測試波形異常無法判定OLTC動作特性正常，以制造商質量承諾投入運行，不能保證OLTC的安全運行。2.2.4變壓器設計上新技術采用，以及電抗式、真空斷路器式等的OLTC使用，直流測試方法無法完全滿足現場測試需要。2.3交流測試法的特點由于局部放電脈沖信號是一個很微弱的信號，現場電磁干擾會對測量結果產生很大的誤差，因此很難準確測量。

?支持脈沖波形、波形頻譜、PRPD圖譜、TF-Map、3-PARD、放電基本參數(放電幅值、相位、頻次等)實時顯示；?采用濾波電路、數字濾波器、TF-Map篩選、分組篩選四重抗干擾技術；?系統采集軟件及分析軟件一體化設計，支持一鍵式安裝；?可調參數**小化，便于現場快速設置及采集，自動更新參數后采集及存儲數據；?具備低通(LPF)、高通(HPF)及帶通(BPF)多種數字濾波器及帶寬選擇功能；?具備采集數據自動保存、信號回放、趨勢分析、歷史數據查詢等功能；?采用分布式組網技術，支持32個數據采集點同步開展監測（可根據需求擴展），可完成15km的高壓電纜耐壓試驗時的局放監測；?采用高可靠性、高安全性云服務器(ECS)，支持高網絡包收發、海量數據存儲及多客戶端訪問，技術人員和**可隨時提供技術支持，分布式組網及IP、指令、數據傳輸GZPD-4D系列分布式局部放電監測與評價系統的概述。高壓開關柜局部放電產生原因

GZPD-4D系列分布式局部放電監測與評價系統構成及功能參數。高壓開關柜局部放電產生原因

局部放電的增加通常意味著絕緣材料的劣化，可能是由以下幾種機制引起的：電樹放電：絕緣材料中的微小缺陷（如氣泡、裂紋或雜質）在電場作用下形成電樹。電樹的生長會改變絕緣材料的電場分布，導致局部放電活動加劇。介質斷裂：長期的電應力作用可能導致絕緣材料中的化學鍵斷裂，形成導電通路，從而引起局部放電。表面老化：絕緣表面由于環境因素（如氧化、水解）的影響，可能會形成導電層或污染物，這些都可能成為局部放電的源頭。內部缺陷發展：絕緣材料內部的微裂紋或空洞在電場作用下可能擴展，形成放電通道。高壓開關柜局部放電產生原因