ICT測(cè)試治具的探針主要有哪幾種?選用探針主要是根據(jù)ict測(cè)試治具線路板的中心距和被測(cè)點(diǎn)的形狀而定，PCB板上所要測(cè)試的點(diǎn)與點(diǎn)之間越近，選用探針的外徑也就越細(xì)。目前國(guó)產(chǎn)的探針質(zhì)量普通的都可以，其實(shí)不少所謂的探針都是國(guó)產(chǎn)貼牌而已。通常ICT測(cè)試治具的探針有很多的規(guī)格，針主要是由三個(gè)部份組成：一是針管，主要是以銅合金為材料外面鍍金;二是彈簧，主要琴鋼線和彈簧鋼外面鍍金;三是針頭，主要是工具鋼(SK)鍍鎳或者鍍金，以上三個(gè)部分組裝成一種探針。ICT是In-CircuitTester的簡(jiǎn)寫(xiě)。金華在線檢測(cè)治具生產(chǎn)批發(fā)

ICT測(cè)試治具使用什么板材？ICT測(cè)驗(yàn)治具中所選用的板材一般有壓克力(有機(jī)玻璃)、環(huán)氧樹(shù)脂板等。一般的測(cè)驗(yàn)治具探針大于1毫米，這類(lèi)治具首要板材是有機(jī)玻璃，首要是因?yàn)橛袡C(jī)玻璃的價(jià)格低，一起相對(duì)較軟的鉆孔時(shí)有脹縮探針套管與孔的結(jié)合緊密，透明的治具，一旦出現(xiàn)問(wèn)題容易查看。但是一般的有機(jī)玻璃在鉆孔的時(shí)分容易發(fā)生溶化和斷鉆頭的情況，特點(diǎn)是鉆孔孔徑小于0.8毫米的，一般鉆孔孔徑小于1毫米時(shí)都選用環(huán)氧樹(shù)脂板材，環(huán)氧樹(shù)脂板材鉆孔不容易斷鉆頭其耐性及剛性都好，環(huán)氧樹(shù)脂板沒(méi)有脹縮所以假如鉆孔孔徑不精確會(huì)形成探針套管與孔之間很松動(dòng)發(fā)生晃動(dòng)。環(huán)氧樹(shù)脂板不透明假如治具具出現(xiàn)問(wèn)題比較難查看，別的有機(jī)玻璃溫差變形比環(huán)氧樹(shù)脂板大一些，假如測(cè)驗(yàn)的密度十分高的需選用環(huán)氧樹(shù)脂板。武漢ICT測(cè)試治具銷(xiāo)售公司ICT測(cè)試治具測(cè)試過(guò)的故障板,因故障定位準(zhǔn)，維修方便，可大幅提高生產(chǎn)效率和減少維修成本。

ICT測(cè)試治具通用功能，全檢出組裝電路板上零件：電阻、電容、電感、電晶體、FETLED.ICT能夠在短短的數(shù)秒鐘內(nèi)對(duì)普通二極體、穩(wěn)壓二極體、光藕器、IC等零件，是否在設(shè)計(jì)的規(guī)格內(nèi)運(yùn)作。回饋到制程的改善。ICT能夠先期找出制程不良所在如線路短路、斷路、組件漏件、反向、錯(cuò)件、空焊等不良問(wèn)題。包括故障位置、零件規(guī)范值、測(cè)試值，ICT能夠?qū)⑸鲜龉收匣虿涣假Y訊以印表機(jī)印出測(cè)試結(jié)果。以供維修人員參考。可以有效降低人員對(duì)產(chǎn)品技術(shù)依賴(lài)度，不需對(duì)產(chǎn)品線路了解，照樣有維修能力。生產(chǎn)管理人員加以分析，能夠?qū)y(cè)試不良資訊統(tǒng)計(jì)。可以找出各種不良的發(fā)生原因，包括人為的因素在內(nèi)，使之各個(gè)解決、完善、指正，藉以提升電路板制造及品質(zhì)能力。

不管是故障位置、零件標(biāo)準(zhǔn)值、測(cè)試值等提供給維修人員參考，可以**地降低產(chǎn)品對(duì)技術(shù)的依賴(lài)度。ICT測(cè)試治具能夠?qū)⑸厦嫠墓收弦杂”頇C(jī)印出測(cè)試結(jié)果，不管是故障位置、零件標(biāo)準(zhǔn)值、測(cè)試值等提供給維修人員參考，可以**地降低產(chǎn)品對(duì)技術(shù)的依賴(lài)度。ICT測(cè)試治具能夠?qū)y(cè)試不良資訊統(tǒng)計(jì)，自動(dòng)化測(cè)試治具，生產(chǎn)管理人員加以分析，模組測(cè)試治具，可以找出各種不良的產(chǎn)生原因，包括人為的因素在內(nèi)，使之各個(gè)解決、完善、指正，藉以提升電路板制造及品質(zhì)能力。ICT測(cè)試治具可進(jìn)行模擬器件功能和數(shù)字器件邏輯功能測(cè)試，故障覆蓋率高。

ICT測(cè)試治具應(yīng)力測(cè)試的重要性？對(duì)PCB板做一個(gè)應(yīng)變測(cè)試，把容易產(chǎn)生的高壓力的流程中很大應(yīng)力測(cè)量出來(lái)，確定應(yīng)力處于允許的范圍內(nèi)。如果應(yīng)力值過(guò)大，可以重新制造或者設(shè)計(jì)ICT測(cè)試治具、按要求改變流程，使得應(yīng)變值下降到允許范圍之內(nèi)。我們?cè)诜蠘?biāo)準(zhǔn)的前提下，對(duì)很多大型代工廠提供相關(guān)的ICT測(cè)試治具應(yīng)力測(cè)試服務(wù)，同時(shí)發(fā)現(xiàn)不少I(mǎi)CT測(cè)試治具存在應(yīng)力過(guò)大的問(wèn)題，需要調(diào)整，對(duì)PCB裝配測(cè)試流程來(lái)說(shuō)還是需要進(jìn)行應(yīng)力應(yīng)變測(cè)試的，提高自己產(chǎn)品的競(jìng)爭(zhēng)能力。ICT治具的優(yōu)點(diǎn)：避免在做過(guò)電的功能測(cè)試時(shí)損壞電源部分的元件及IC。重慶在線ICT測(cè)試治具廠家報(bào)價(jià)

ICT測(cè)試點(diǎn)的要求有測(cè)試點(diǎn)的焊盤(pán)大小至少要有28mil，較好在35mil以上，建議設(shè)計(jì)為1mm。金華在線檢測(cè)治具生產(chǎn)批發(fā)

導(dǎo)致ICT測(cè)試冶具測(cè)試不良的原因分析：開(kāi)路不良（常由探針接觸不良所致），開(kāi)路不良只針對(duì)某一短路群而言，例如：短路群：<1，4，10，12>，ICT測(cè)試冶具測(cè)試出1，10開(kāi)路不良，表示PCB上測(cè)試點(diǎn)1與測(cè)試點(diǎn)10之間電阻大于55Ω（或55-85Ω），可以用萬(wàn)用表在PCB上的測(cè)試點(diǎn)上進(jìn)行驗(yàn)證；可能原因：1）測(cè)試針壞掉，或針型與待測(cè)板上的測(cè)試點(diǎn)不適合；2）測(cè)試點(diǎn)上有松香等絕緣物品；3）某一元器件漏裝、焊接不良、錯(cuò)件等；4）繼電器、開(kāi)關(guān)或變阻器的位置有變化；5）PCB上銅箔斷裂，或ViaHole與銅箔之間Open。金華在線檢測(cè)治具生產(chǎn)批發(fā)