ICT測試治具能夠檢查制成板上在線元器件的電氣性能和電路網絡的連接情況。能夠定量地對電阻、電容、電感、晶振等器件進行測量，對二極管、三極管、光藕、變壓器、繼電器、運算放大器、電源模塊等進行功能測試，對中小規模的集成電路進行功能測試，如所有74系列、Memory類、常用驅動類、交換類等IC。ICT測試治具通過直接對在線器件電氣性能的測試來發現制造工藝的缺陷和元器件的不良。元件類可檢查出元件值的超差、失效或損壞，Memory類的程序錯誤等。對工藝類可發現如焊錫短路，元件插錯、插反、漏裝，管腳翹起、虛焊，PCB短路、斷線等故障。測試的故障直接定位在具體的元件、器件管腳、網絡點上，故障定位準確。對故障的維修不需較多專業知識。采用程序控制的自動化測試，操作簡單，測試快捷迅速，單板的測試時間一般在幾秒至幾十秒。在線測試通常是生產中首先道測試工序，能及時反應生產制造狀況，利于工藝改進和提升。ICT測試治具測試過的故障板,因故障定位準，維修方便，可大幅提高生產效率和減少維修成本。因其測試項目具體，是現代化大生產品質保證的重要測試手段之一。ICT叫做自動在線測試儀。南通ICT測試治具廠家

ICT在線測試儀測試是怎樣讀取時間的?1.往單元A寫入數據"0"，往單元B寫入數據"1"，堅持READ為使能狀態并讀取單元A值。2.地址轉換到單元B，實質上就是ICT在線測試儀丈量內存數據的堅持時間，轉換時間就是從地址轉換開始到數據變換之間的時間。3.建立時間--輸入數據轉換必需提前鎖定輸入時鐘的時間。4.堅持時間--鎖定輸入時鐘之后輸入數據必需堅持的時間。5.暫停時間--內存單元能保持它狀態的時間。6.刷新時間--刷新內存的很大允許時間。7.寫入恢復時間--寫操作之后的能讀取某一內存單元所必須等待的時間。南通ICT測試治具廠家ICT測試治具檢驗標準：周邊是否刮除利角,需專門雙邊例角工具。

加過電的板子對ICT有機器或者治具有什么直接的影響嗎?加過電的板子：比如經過FCT測試后板子，PCBA上都會帶有電量（尤其體現在電路板上的大電容）如果直接再次上ICT上測試的話，有可能會出現擊穿開關板；所以加過電的板子在做ICT前盡量先對其放電。放電方式：1、通過放電板來放電；2、在設備軟件測試步里面加放電步。測試治具可以測試出產品的好壞，電子產品批量進行生產其中必有一些不合格的產品，廠家如需快速的把這些產品挑選出來就需使用到測試治具。電子產品有各種各樣的性能，不同的性能測試用到的治具也會不一樣。就現在市場看來很多廠家開始使用治具生產線，產品一邊生產一邊檢測很大程度提高了廠家的生產效率。

ICT測試不良及常見故障的分析方法：A、如果測試值與標準值比較只是發生了較大的偏移，而不是量測值為無窮大的情況，則可能存在的原因有以下幾個方面：（1）錯件；（2）有內阻的被動組件的影響；（3）測試點有問題。B、如果量測值與標準值比較只是發生了很小的偏移，這種情況多為零件誤差引起的，但是為了準確起見，較好是通過比較的方法看是否真的是由于誤差的原因而造成的量測值偏移，如果由于誤差的原因造成的話，需由工程人員作相應的程序調整。ICT具有操作簡單、快捷迅速、故障定位準確等特點。

ICT測試治具中的探針如何選用？通常ICT測試治具的探針有很多的規格，針主要是由三個部份組成：一是針管，主要是以銅合金為材料外面鍍金;二是彈簧，主要琴鋼線和彈簧鋼外面鍍金;三是針頭，主要是工具鋼(SK)鍍鎳或者鍍金，以上三個部分組裝成一種探針。選用ICT測試治具探針主要是根據線路板的中心距和被測點的開關而定，PCB板上所要測試的點與點之間越近，選用探針的外徑也就越細，國產的探針質量普通還可以的。一般超過0.31含0.31毫米的國產探針都過關，測試次數都可以保證在20萬次到15萬次左右，雖然盡快產品說是100萬次，實際使用的效果也就在這個水平稍高一些而已，國產和進口產品很大的區別是在電鍍層的耐磨性，因為針的材料都是進口原料，所以進口和國產差別不大。ICT治具的測量總誤差由機器本身的測量誤差；通道及接觸誤差；被測對象的誤差三項構成的。金華在線ICT自動化測試儀器生產批發

ICT測試治具的保養：被測板應準確對準定位銷后輕置于測試針床上，嚴禁在測試針床上拖帶被測板。南通ICT測試治具廠家

測試針帶動ICT測試冶具的運行嗎？隨著信息技術時代的發展，而今信息化表示了世界發展的潮流。信息產業不僅推動了全球的經濟發展，而且成為科技創新的中心力量。ICT市場前景廣闊，那ICT測試治具來說吧：ICT測試冶具是整個ICT設計、流片、應用過程中不可或缺的一環，它不僅可幫助廠商大幅節省測試成本，且測試結果直觀可靠。測試針是ICT測試冶具中的重要零件之一，那么它主要起到了什么作用呢？1、增強耐用度：ICT測試冶具測試針設計使彈簧空間比傳統探針要大，因而可以達到更長的壽命和容納更強的彈力。2、獨有的一直不間斷電接觸設計：行程超過或不足2/3其電性接觸皆能保持性低阻值，徹底消除任何因探針導致的假性開路誤叛。3、至目標測點準確度誤差更嚴謹：ICT測試冶具的測試針能達到同類型產品無法比擬的至目標測點準確度。ICT測試冶具通用性高，只需更換顆粒限位框，即可測試尺寸不同的顆粒；采用超短進口雙頭探針設計，相比同類測試產品，可使ICT和PCB之間的數據傳輸距離更短，從而保證測試結果更穩定，頻率更高，DDR3系列較高頻率可達2000MHz。南通ICT測試治具廠家