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廣州半導體晶圓銷售廠家

來源: 發布時間:2022-08-01

    因此晶圓1010須旋轉以在整個晶圓1010上接收均勻的聲波能量。雖然在圖1a及圖1b中*示意了一個聲波裝置1003,但是在其他實施例中,也可以同時或間歇使用兩個或多個聲波裝置。同理,也可以使用兩個或多個噴頭1012以更均勻的輸送清洗液1032。參考圖2a至圖2g所示的不同形狀的超聲波或兆聲波換能器。圖2a示意了三角形或餅形的傳感器;圖2b示意了矩形的傳感器;圖2c示意了八邊形的傳感器;圖2d示意了橢圓形的傳感器;圖2e示意了半圓形的傳感器;圖2f示意了1/4圓形的傳感器;圖2g示意了圓形的傳感器。這些形狀中的每一個聲波換能器可以用于代替圖1所示的聲波裝置1003中的壓電式傳感器1004。參考圖3揭示了在晶圓清洗過程中的氣泡內爆。當聲能作用于氣泡3012上時,氣泡3012的形狀逐漸從球形a壓縮至蘋果形g。**終氣泡3012到達內爆狀態i并形成微噴射。如圖4a至圖4b所示,微噴射很猛烈(可達到上千個大氣壓和上千攝氏度),會損傷晶圓4010上的精細圖案結構4034,尤其是當特征尺寸t縮小到70nm或更小時。圖4a至圖4b揭示了在晶圓清洗過程中不穩定的氣穴振蕩損傷晶圓上的圖案結構。參考圖4a所示,由于聲波空化在半導體晶圓4010的圖案結構4034上方形成氣泡4040,4042,4044。半導體晶圓推薦廠家..廣州半導體晶圓銷售廠家

    該***邊結構區域與該第三邊結構區域的寬度相同。進一步的,為了讓基板結構所承載的半導體組件的設計更加簡化,其中該***邊結構區域、該第二邊結構區域、該第三邊結構區域與該第四邊結構區域的寬度相同。進一步的,為了讓基板結構適應所承載的半導體組件的不同設計,其中該邊框結構區域依序包含***邊結構區域、第二邊結構區域、第三邊結構區域與第四邊結構區域,該***邊結構區域與該第三邊結構區域的寬度不同。進一步的,為了讓基板結構適應所承載的半導體組件的具有更大的設計彈性,其中該***邊結構區域、該第二邊結構區域、該第三邊結構區域與該第四邊結構區域的寬度均不相同。進一步的,為了配合大多數矩形芯片的形狀,其中該中心凹陷區域是矩形。進一步的,為了配合大多數方形芯片的形狀,其中該中心凹陷區域是方形。進一步的,為了讓基板區域的電阻值降低,其中該晶圓層包含與該第二表面相對應的一***表面,在進行該蝕刻步驟之后,在該邊框結構區域的該***表面至該第二表面的距離,大于或等于在該中心凹陷區域的該***表面至該第二表面的距離的兩倍。進一步的,為了讓基板區域的電阻值降低,其中在該蝕刻步驟進行一部份后,再將該屏蔽層覆蓋到該***內框結構區域。丹東半導體晶圓誠信為本半導體晶圓的市場價格?

    本實用新型涉及一種半導體晶圓濕法清洗治具。背景技術:濕法清洗是半導體生產中被***接受和使用,作為半導體制造過程中,由于其成本低,可靠性高等優點被***使用。通常的濕法清洗過程是將需要清洗的晶圓放置到特定的花籃中,然后將承載晶圓的花籃放置于相應的清洗燒杯中,清洗燒杯中盛放可以清洗晶圓的溶液,根據不同的清洗要求,清洗燒杯會放置在帶有加熱或者超聲功能的清洗槽內。傳統的晶圓清洗花籃通常將晶圓豎直放置,通過卡槽固定,此種方式存在如下缺陷:由于標準晶圓清洗花籃的卡槽通常設計的較窄,人為操作取、放片時手易抖動、位置把握不準等因素,晶圓容易和卡槽周邊發生碰撞、擠壓,造成晶圓破碎。如果在設計時增大花籃卡槽寬度的話,運輸和清洗操作過程中晶圓在卡槽內容易大幅度晃動,產生較大的沖擊力,同樣會造成晶圓破碎。為了解決這一問題,出現了一些水平放置清洗花籃,晶圓在花籃中水平放置,可以避免豎直放置型花籃容易導致晶圓破損的問題。現有水平放置清洗花籃通常被設計為特定尺寸的圓形花籃,但是隨著半導體技術的發展,在產品流線中一般會有多種尺寸、多種不同形狀的晶圓同時流片,傳統方法只能定制不同尺寸的花籃進行使用,這增加了設備的持有成本。

    在本發明的一個或多個實施方式中,排氣口包含多個穿孔。本發明的另一實施方式提供一種半導體晶圓干燥方法。半導體晶圓干燥方法包含:將半導體晶圓設置于腔室內;對半導體晶圓發射微波,以將半導體晶圓上的水加熱并轉換成水蒸氣;以及將水蒸氣排出腔室。在本發明的一個或多個實施方式中,半導體晶圓干燥方法進一步包含:旋轉半導體晶圓。在本發明的一個或多個實施方式中,半導體晶圓的轉速實質上為10rpm。相較于公知技術,本發明的上述實施方式至少具有以下優點:(1)運用微波移除先前的工藝殘留于半導體晶圓表面上的水,使得干燥過程變得簡單,從而能有效降低干燥半導體晶圓的作業成本。(2)由于微波產生器平均地環繞腔室分布,微波可均勻地進入腔室內,并均勻地到達位于腔室內的半導體晶圓,從而促進干燥過程。(3)由于半導體晶圓以約10rpm(revolutionsperminute,每分鐘回轉數)的低轉速旋轉,半導體晶圓可均勻地暴露于發射自微波產生器的微波,藉此可促進干燥過程。附圖說明參照以下附圖閱讀下文中詳述的實施方式,可更透徹地理解本發明。圖1為依據本發明一實施方式的半導體晶圓干燥設備的剖視圖。圖2為依據本發明另一實施方式的半導體晶圓干燥設備的剖視圖。開封怎么樣半導體晶圓?

    并均勻地到達位于腔室c內的半導體晶圓200。在實際應用中,半導體晶圓干燥設備100包含多個微波產生器130。一般而言,微波產生器130平均地環繞腔室c分布,如此一來,微波w可均勻地進入腔室c內,并均勻地到達位于腔室c內的半導體晶圓200,從而促進半導體晶圓200的干燥過程。舉例而言,如圖1所示,至少兩個微波產生器130平均地分布于殼體120外側,使其平均地環繞腔室c分布。另外,應當理解的是,本發明的殼體120基本上可設置于產業中現有的單晶圓濕處理設備(圖未示)上。一般而言,單晶圓濕處理設備具有旋轉基座,其用以承載單一片半導體晶圓,以于單晶圓濕處理設備內對半導體晶圓進行各種處理。經單晶圓濕處理設備處理后,半導體晶圓可被留在旋轉基座上,并且可將本發明的殼體120以及設置于其上的微波產生器130設置于單晶圓濕處理設備的旋轉基座上,從而能執行前文所述的半導體晶圓干燥過程。請參照圖2,其為依據本發明另一實施方式的半導體晶圓干燥設備100的剖視圖。在本實施方式中,如圖2所示,半導體晶圓干燥設備100進一步包含旋轉器140。旋轉器140連接基座110,并且被配置成旋轉基座110。于半導體晶圓干燥設備100對半導體晶圓200執行干燥處理的期間。半導體晶圓信息匯總。河北半導體晶圓銷售電話

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    通過通信電纜25088發送比較結果到主機25080。如果聲波發生器25082的輸出值與主機25080發送的參數設定值不同,則檢測電路25086將發送報警信號到主機25080。主機25080接收到報警信號后關閉聲波發生器25082來阻止對晶圓1010上的圖案結構的損傷。圖26揭示了根據本發明的一個實施例的圖25所示的檢測電路25086的框圖。該檢測電路25086示范性包括電壓衰減電路26090、整形電路26092、主控制器26094、通信電路26096及電源電路26098。主控制器26094可以用fpga實現。通信電路26096作為主機25080的接口。通信電路26096與主機25080實現rs232/rs485串行通信來從主機25080讀取參數設置,并將比較結果返回主機25080。電源電路26098將直流15v轉換成直流、直流。圖27揭示了根據本發明的另一個實施例的檢測電路25086的框圖。該檢測電路25086示范性包括電壓衰減電路26090、振幅檢測電路27092、主控制器26094、通信電路26096及電源電路26098。圖28a至圖28c揭示了根據本發明的一個實施例的電壓衰減電路的示例。當聲波發生器25082輸出的聲波信號***被讀取時,該聲波信號具有相對較高的振幅值,如圖28b所示。電壓衰減電路26090被設計成使用兩個運算放大器28102和28104來減小波形的振幅值。廣州半導體晶圓銷售廠家

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