眼圖與性能的關系眼圖的"眼睛"張開的大小反映著碼間串擾的強弱。"眼睛"張的越大且眼圖越端正表示碼間串擾越小;反之表示碼間串擾越大。當存在噪聲時噪聲將疊加在信號上觀察到的眼圖的線跡會變得模糊不清。若同時存在碼間串擾"眼睛"將張開得更小。與間串擾時的眼圖相比原來清晰端正的細線跡變成了比較模糊的帶狀線而且不很端正。噪聲越大線跡越寬越模糊;碼間串擾越大眼圖越不端正。理論分析得到如下幾條結論在實際應用中要以此為參考從眼圖中對系統性能作一論述:(1)抽樣時刻應在"眼睛"張開的時刻。(2)對定時誤差的靈敏度可由眼圖斜邊的斜率決定。斜率越大對定時誤差就越靈敏。(3)在抽樣時刻上眼圖上下兩分支陰影區的垂直高度表示信號畸變。(4)眼圖的橫軸位置應對應判決門限電平。(5)在抽樣時刻上下兩分支離門限近的一根線跡至門限的距離表示各相應電平的噪聲容限噪聲瞬時值超過它就可能發生錯誤判決。(6)對于利用信號過零點取平均來得到定時信息的接收系統眼圖傾斜分支與橫軸相交的區域的大小表示零點位置的變動范圍這個變動范圍的大小對提取定時信息有重要的影響。DDR測試USB眼圖測試設備？解決方案眼圖測試產品介紹

（3）真正意義的眼圖是一時鐘為基準進行疊加的：眼圖測量的根本目的是判斷該數據信號相對于其時鐘信號（可能是專門的時鐘通道也可能是內嵌的時鐘信息）的建立/保持時間窗口、采樣時的信號幅度等參數滿足標志要求，所以眼圖測量一定要以其參考時鐘為基準進行信號疊加才有意義。有時用數據信號自身的邊沿觸發進行自然疊加也能形成類似眼圖的形狀，但這不是真正意義上的眼圖。

（4）低速信號眼圖：很多速率不大太高總線也可以做眼圖測量，但由于數據比特較寬，上升時間相對于數據比特寬度占的比例很小，所以一些低速數字信號的眼圖可能比較方正或者比較規整，看起來不太像眼睛，但從物理含義上說這仍然是一種眼圖。 解決方案眼圖測試產品介紹克勞德高速數字信號測試實驗室八種狀態形成的眼圖。

眼圖是怎么形成的一般均可以用示波器觀測到信號的眼圖，其具體的操作方法為:將示波器跨接在接收濾波器的輸出端，然后調整示波器掃描周期，使示波器水平掃描周期與接收碼元的周期同步，這時示波器屏幕上看到的圖形就稱為眼圖。示波器一般測量的信號是一些位或某一段時間的波形，更多的反映的是細節信息，而眼圖則反映的是鏈路上傳輸的所有數字信號的整體特征。如果示波器的整個顯示屏幕寬度為100ns，則表示在示波器的有效頻寬、取樣率及記憶體配合下，得到了100ns下的波形資料。但是，對于一個系統而言，分析這么短的時間內的信號并不具有代表性，例如信號在每一百萬位元會出現一次突波(Spike)，但在這100ns時間內，突波出現的機率很小，因此會錯過某些重要的信息。如果要衡量整個系統的性能，這么短的時間內測量得到的數據顯然是不夠的。設想，如果可以以重復疊加的方式，將新的信號不斷的加入顯示屏幕中，但卻仍然記錄著前次的波形，只要累積時間夠久，就可以形成眼圖，從而可以了解到整個系統的性能，如串擾、噪聲以及其他的一些參數，為整個系統性能的改善提供依據。一個完整的眼圖應該包含從"000"到"111"的所有狀態組，且每一個狀態組發生的次數要盡量一致。

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在早期設計階段，如何完整評價DDR信號質量和時序等參數呢，這里為大家介紹一個設計到驗證的流程。ADS提供了W2351EPDDR4一致性分析工具，在ADS仿真后，生成波形可以直接導入到運行于電腦里的示波器離線分析軟件Infiniium和N6462ADDR4/LPDDR4一致性測試套件，這個軟件可以分析前面所說的JEDEC對DDR4信號要求的電氣和時序等參數，判斷是否符合規范要求，以測試報告形式呈現，這種方式可以在設計階段發現違規問題，及時改進設計，縮短研發周期，降低硬件開發成本。另一方面，在硬件已經打板回來，可以通過V系列等示波器測試信號，通過實際的信號檢查存在的問題，將仿真的結果和實際測試的結果做相關對比，進一步迭代優化仿真模型和測量方法，使仿真和測試結果逐漸逼近。 數字信號眼圖測試系統。

DDR4眼圖測試1-2是德科技ADS仿真軟件的DDR4總線仿真器，提供了統計眼圖分析的功能，能夠在短時間內統計計算在極低誤碼率(1e-16)下的DQ眼圖，根據規范判斷模板是否違規。另外基于總線的仿真，也很易于仿真基于串擾因素下的眼圖質量。基于示波器的DDR4信號實測，可以利用大家熟悉的InfiniiScan區域觸發功能，很容易分離出“寫”信號，再通過Gating功能對Burst寫信號做時鐘恢復和眼圖重建，再進行EyeContour測量，并驗證1e-16誤碼率下的眼圖模板是否違規。如果是使用一致性測試軟件，就不用手動操作，軟件會自動跟蹤和分離波形并實現眼圖測試 克勞德高速數字信號測試實驗室眼圖是在示波器的橫軸上把一串串比特周期疊加，形成眼樣波形。USB測試眼圖測試方案商

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DDR4 做測試時，由于 BGA 信號難以探測，是德科技提供了 N2114A/N2115A 等DDR4 Interposer，將 BGA 下方的信號引到 Interposer ，方便探頭焊接，為了減少 Interposer 對信號帶來影響，在 interposer 內專門有埋阻設計，減少由于分支和走線帶來的阻抗不連續和對信號的負載效應；但為了精確測量，我們需要對 BGA Interposer 帶來的誤差進行修正。可以通過 InfiniiSim 或在 DDR4 一致性測試軟件N6462A 內進行去嵌，在軟件內使用多端口拓撲模型，載入 Interposer 的S 參數，生成從探頭測試點到 BGA 焊球位置的去嵌傳遞函數，在示波器中測得去嵌后的波形，下圖可以看到去嵌后信號眼圖的改善。 解決方案眼圖測試產品介紹