要精確產(chǎn)生PCle要求的壓力眼圖需要調(diào)整很多參數(shù)，比如輸出信號(hào)的幅度、預(yù)加重、 差模噪聲、隨機(jī)抖動(dòng)、周期抖動(dòng)等，以滿足眼高、眼寬和抖動(dòng)的要求。而且各個(gè)調(diào)整參數(shù)之間 也會(huì)相互制約，比如調(diào)整信號(hào)的幅度時(shí)除了會(huì)影響眼高也會(huì)影響到眼寬，因此各個(gè)參數(shù)的調(diào) 整需要反復(fù)進(jìn)行以得到 一個(gè)比較好化的組合。校準(zhǔn)中會(huì)調(diào)用PCI-SIG的SigTest軟件對(duì)信號(hào) 進(jìn)行通道模型嵌入和均衡，并計(jì)算的眼高和眼寬。如果沒有達(dá)到要求，會(huì)在誤碼儀中進(jìn) 一步調(diào)整注入的隨機(jī)抖動(dòng)和差模噪聲的大小，直到眼高和眼寬達(dá)到參數(shù)要求。PCI-E4.0的標(biāo)準(zhǔn)什么時(shí)候推出？有什么變化？機(jī)械PCI-E測(cè)試修理

在之前的PCIe規(guī)范中，都是假定PCIe芯片需要外部提供一個(gè)參考時(shí)鐘(RefClk),在這 種芯片的測(cè)試中也是需要使用一個(gè)低抖動(dòng)的時(shí)鐘源給被測(cè)件提供參考時(shí)鐘，并且只需要對(duì) 數(shù)據(jù)線進(jìn)行測(cè)試。而在PCIe4.0的規(guī)范中，新增了允許芯片使用內(nèi)部提供的RefClk(被稱 為Embeded RefClk)模式，這種情況下被測(cè)芯片有自己內(nèi)部生成的參考時(shí)鐘，但參考時(shí)鐘的 質(zhì)量不一定非常好，測(cè)試時(shí)需要把參考時(shí)鐘也引出，采用類似于主板測(cè)試中的Dual-port測(cè) 試方法。如果被測(cè)芯片使用內(nèi)嵌參考時(shí)鐘且參考時(shí)鐘也無法引出，則意味著被測(cè)件工作在 SRIS(Separate Refclk Independent SSC)模式，需要另外的算法進(jìn)行特殊處理。海南PCI-E測(cè)試產(chǎn)品介紹PCI-E X16,PCI-E 2.0,PCI-E 3.0插口區(qū)別是什么？

PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)在時(shí)鐘架構(gòu)上除了支持傳統(tǒng)的共參考時(shí)鐘(Common Refclk,CC)模式以 外，還可以允許芯片支持參考時(shí)鐘(Independent Refclk,IR)模式，以提供更多的連接靈 活性。在CC時(shí)鐘模式下，主板會(huì)給插卡提供一個(gè)100MHz的參考時(shí)鐘(Refclk),插卡用這 個(gè)時(shí)鐘作為接收端PLL和CDR電路的參考。這個(gè)參考時(shí)鐘可以在主機(jī)打開擴(kuò)頻時(shí)鐘 (SSC)時(shí)控制收發(fā)端的時(shí)鐘偏差，同時(shí)由于有一部分?jǐn)?shù)據(jù)線相對(duì)于參考時(shí)鐘的抖動(dòng)可以互 相抵消，所以對(duì)于參考時(shí)鐘的抖動(dòng)要求可以稍寬松一些

Cle4.0測(cè)試的CBB4和CLB4夾具無論是Preset還是信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試，都需要被測(cè)件工作在特定速率的某些Preset下，要通過測(cè)試夾具控制被測(cè)件切換到需要的設(shè)置狀態(tài)。具體方法是：在被測(cè)件插入測(cè)試夾具并且上電以后，可以通過測(cè)試夾具上的切換開關(guān)控制DUT輸出不同速率的一致性測(cè)試碼型。在切換測(cè)試夾具上的Toggle開關(guān)時(shí)，正常的PCle4.0的被測(cè)件依次會(huì)輸出2.5Gbps、5Gbps-3dB、5Gbps-6dB、8GbpsP0、8GbpsP1、8GbpsP2、8GbpsP3、8GbpsP4、8Gbps走pcie通道的M.2接口必定是支持NVME協(xié)議的嗎？

PCIe4.0的測(cè)試項(xiàng)目PCIe相關(guān)設(shè)備的測(cè)試項(xiàng)目主要參考PCI-SIG發(fā)布的ComplianceTestGuide(一致性測(cè)試指南)。在PCIe3.0的測(cè)試指南中，規(guī)定需要進(jìn)行的測(cè)試項(xiàng)目及其目的如下(參考資料：PCIe3.0ComplianceTestGuide):·ElectricalTesting(電氣特性測(cè)試):用于檢查主板以及插卡發(fā)射機(jī)和接收機(jī)的電氣性能。·ConfigurationTesting(配置測(cè)試):用于檢查PCIe設(shè)備的配置空間。·LinkProtocolTesting(鏈路協(xié)議測(cè)試):用于檢查設(shè)備的鏈路層協(xié)議行為。PCIE 系統(tǒng)架構(gòu)及物理層一致性測(cè)試；測(cè)量PCI-E測(cè)試代理品牌

PCI-e硬件科普:PCI-e到底是什么?機(jī)械PCI-E測(cè)試修理

PCle5.0接收端CILE均衡器的頻率響應(yīng)PCIe5.0的主板和插卡的測(cè)試方法與PCIe4.0也是類似，都需要通過CLB或者CBB的測(cè)試夾具把被測(cè)信號(hào)引出接入示波器進(jìn)行發(fā)送信號(hào)質(zhì)量測(cè)試，并通過誤碼儀的配合進(jìn)行LinkEQ和接收端容限的測(cè)試。但是具體細(xì)節(jié)和要求上又有所區(qū)別，下面將從發(fā)送端和接收端測(cè)試方面分別進(jìn)行描述。

PCIe5.0發(fā)送端信號(hào)質(zhì)量及LinkEQ測(cè)試PCIe5.0的數(shù)據(jù)速率高達(dá)32Gbps,因此信號(hào)邊沿更陡。對(duì)于PCIe5.0芯片的信號(hào)測(cè)試，協(xié)會(huì)建議的測(cè)試用的示波器帶寬要高達(dá)50GHz。對(duì)于主板和插卡來說，由于測(cè)試點(diǎn)是在連接器的金手指處，信號(hào)經(jīng)過PCB傳輸后邊沿會(huì)變緩一些，所以信號(hào)質(zhì)量測(cè)試規(guī)定的示波器帶寬為33GHz。但是，在接收端容限測(cè)試中，由于需要用示波器對(duì)誤碼儀直接輸出的比較快邊沿的信號(hào)做幅度和預(yù)加重校準(zhǔn)，所以校準(zhǔn)用的示波器帶寬還是會(huì)用到50GHz。 機(jī)械PCI-E測(cè)試修理