DDR測試

由于DDR4的數據速率會達到3.2GT/s以上，DDR5的數據速率更高，所以對邏輯分析儀的要求也很高，需要狀態采樣時鐘支持1.6GHz以上且在雙采樣模式下支持3.2Gbps以上的數據速率。圖5.22是基于高速邏輯分析儀的DDR4/5協議測試系統。圖中是通過DIMM條的適配器夾具把上百路信號引到邏輯分析儀，相應的適配器要經過嚴格測試，確保在其標稱的速率下不會因為信號質量問題對協議測試結果造成影響。目前的邏輯分析儀可以支持4Gbps以上信號的采集和分析。 DDR測試技術介紹與工具分析；河北數字信號DDR測試

對于DDR2-800，這所有的拓撲結構都適用，只是有少許的差別。然而，也是知道的，菊花鏈式拓撲結構被證明在SI方面是具有優勢的。對于超過兩片的SDRAM，通常，是根據器件的擺放方式不同而選擇相應的拓撲結構。圖3顯示了不同擺放方式而特殊設計的拓撲結構，在這些拓撲結構中，只有A和D是適合4層板的PCB設計。然而，對于DDR2-800，所列的這些拓撲結構都能滿足其波形的完整性，而在DDR3的設計中，特別是在1600Mbps時，則只有D是滿足設計的。廣東DDR測試安裝DDR測試USB眼圖測試設備？

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內存條測試對內存條測試的要求是千差萬別的。DDR內存條的制造商假定已經進行過芯片級半導體故障的測試，因而他們的測試也就集中在功能執行和組裝錯誤方面。通過采用DDR雙列直插內存條和小型雙列直插內存條，可以有三種不同內存條測試儀方案：雙循環DDR讀取測試。這恐怕是簡單的測試儀方案。大多數的測試儀公司一般對他們現有的SDR測試儀作一些很小的改動就將它們作為DDR測試儀推出。SDR測試儀的寫方式是將同一數據寫在連續排列的二個位上。在讀取過程中，SDR測試儀能首先讀DDR內存條的奇數位數據。然后，通過將數據鎖存平移半個時鐘周期，由第二循環讀偶數位。這使得測試儀能完全訪問DDR內存單元。該方法沒有包括真正的突發測試，而且也不是真正的循環周期測試。

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DDR5的接收端容限測試

前面我們在介紹USB3.0、PCIe等高速串行總線的測試時提到過很多高速的串行總線由于接收端放置有均衡器，因此需要進行接收容限的測試以驗證接收均衡器和CDR在惡劣信號下的表現。對于DDR來說，DDR4及之前的總線接收端還相對比較簡單，只是做一些匹配、時延、閾值的調整。但到了DDR5時代(圖5.19),由于信號速率更高，因此接收端也開始采用很多高速串行總線中使用的可變增益調整以及均衡器技術，這也使得DDR5測試中必須關注接收均衡器的影響，這是之前的DDR測試中不曾涉及的。 DDR信號質量自動測試軟件；

對于DDR2和DDR3，時鐘信號是以差分的形式傳輸的，而在DDR2里，DQS信號是以單端或差分方式通訊取決于其工作的速率，當以高度速率工作時則采用差分的方式。顯然，在同樣的長度下，差分線的切換時延是小于單端線的。根據時序仿真的結果，時鐘信號和DQS也許需要比相應的ADDR/CMD/CNTRL和DATA線長一點。另外，必須確保時鐘線和DQS布在其相關的ADDR/CMD/CNTRL和DQ線的當中。由于DQ和DM在很高的速度下傳輸，所以，需要在每一個字節里，它們要有嚴格的長度匹配，而且不能有過孔。差分信號對阻抗不連續的敏感度比較低，所以換層走線是沒多大問題的，在布線時優先考慮布時鐘線和DQS。DDR4信號完整性測試案例；河北數字信號DDR測試

DDR工作原理與時序問題；河北數字信號DDR測試

DDR應用現狀隨著近十年以來智能手機、智能電視、AI技術的風起云涌，人們對容量更高、速度更快、能耗更低、物理尺寸更小的嵌入式和計算機存儲器的需求不斷提高，DDRSDRAM也不斷地響應市場的需求和技術的升級推陳出新。目前，用于主存的DDRSDRAM系列的芯片已經演進到了DDR5了，但市場上對經典的DDR3SDRAM的需求仍然比較旺盛。測試痛點測試和驗證電子設備中的DDR內存，客戶一般面臨三大難題：如何連接DDR內存管腳；如何探測和驗證突發的讀寫脈沖信號；配置測試系統完成DDR內存一致性測試。河北數字信號DDR測試