藥物制劑生產過程中除需添加各種輔料外,往往還需要經過溶解、研磨、干燥(溫度)、壓片等工藝過程,在此過程中API的晶型有可能發生改變,進而可能影響到藥物的療效。國內外FDA規定多晶型藥物在研制、生產、貯存過程中必須保證其晶型的一致性,固體制劑中使用的晶型物質應該與API晶型一致。因此藥物制劑中的晶型分析是非常重要的。由于輔料的存在對藥物制劑中API的晶型分析增加了干擾,特別是API含量非常少的制劑樣品,檢測更加困難。XRPD是API晶型分析的有效手段之一,配合高性能的先進檢測器,為制劑中微量API的晶型檢測提供了有利工具。D8 DISCOVER 特點:UMC樣品臺可對重達5 kg的樣品進行掃描、大區域映射300mm的樣品、高通量篩選支持三個孔板。檢測XRD衍射儀哪里好
X射線粉末衍射(XRPD)技術是重要的材料表征工具之一。粉末衍射圖中的許多信息,直接源于物相的原子排列。在D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件的支持下,您將能簡單地實施常見的XRPD方法:鑒別晶相和非晶相,并測定樣品純度對多相混合物的晶相和非晶相進行定量分析微觀結構分析(微晶尺寸、微應變、無序…)熱處理或加工制造組件產生的大量殘余應力織構(擇優取向)分析指標化、從頭晶體結構測定和晶體結構精修,由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。檢測XRD衍射儀哪里好D8 DISCOVER配備了MONTEL光學器件的IμS微焦源可提供更大強度小X射線束,非常適合小范圍或小樣品的研究。
所有維度都非常好的數據質量不論在何種應用場合,它都是您的可選的探測器:高的計數率、動態范圍和能量分辨率,峰位精度布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976c)整個角度范圍內的準直保證,面向未來的多用途采用了開放式設計并具有不受約束的模塊化特性的同時,將用戶友好性、操作便利性以及安全操作性發揮得淋漓盡致,這就是布魯克DAVINCI設計,布魯克獲得的TWIN-TWIN光路設計極大地簡化了D8ADVANCE的操作,使之適用于多種應用和樣品類型。為便于用戶使用,該系統可在4種不同的光束幾何之間進行自動切換。該系統無需人工干預,即可在Bragg-Brentano粉末衍射幾何和不良形狀的樣品、涂層和薄膜的平行光束幾何以及它們之間進行切換,且無需人工干預,是在環境下和非環境下對包括粉末、塊狀物體、纖維、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)在內的所有類型的樣品進行分析的理想選擇。
多層膜XRR引言X射線反射率(XRR:X-RayReflectivity)單層薄膜或多層膜中各層薄膜的密度、膜厚、粗糙度等結構參數的有效無損檢測手段。由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現的:配置儀器時,免工具、免準直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不止如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976)的準直保證。目前,在峰位、強度和分辨率方面,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。從過程開發到質量控制,D8 DISCOVER可以對亞毫米至300mm大小的樣品進行結構表征。
薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,不過進一步提供了光束調節和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鑒定、晶體質量、殘余應力、織構分析、厚度測定以及組分與應變分析。在對薄膜和涂層進行分析時,著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析(從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜)。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質量的薄膜分析:掠入射衍射X射線反射法高分辨率X射線衍射倒易空間掃描。由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現的:配置儀器時,免工具、免準直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。XRD可研究材料的結構和物理特性,是 重要的材料研究工具之一。深圳BRUKERXRD衍射儀哪里好
對較大300 mm的樣品進行掃描、安裝和掃描重量不超過5kg的樣品、自動化接口。檢測XRD衍射儀哪里好
D8ADVANCEECO是市面上環保的X射線衍射儀,其應用范圍、數據質量、靈活性和可升級性毫不打折扣。D8ADVANCEECO是功能齊全的D8ADVANCE版本,適用于所有X射線粉末衍射和散射應用。與D8ADVANCE完全兼容,它具有面向未來的所有靈活性。面對新應用,您隨時都能對它輕松完成升級,從而適應未來實驗室可能出現的任何X射線衍射和散射應用需求:相鑒定定量相分析微觀結構分析結構測定和精修殘余應力織構掠入射衍射(GID)X射線反射分析(XRR)小角X射線散射(SAXS)對分布函數(PDF)分析檢測XRD衍射儀哪里好