SMT表面組裝技術是目前電子組裝行業里流行的一種技術和工藝，促進了電子產品的小型化、多功能化，為大批量生產、低缺陷率生產提供了條件。SMT錫膏的印刷是SMT制程中首道工序也是SMT生產工藝的重要環節，錫膏印刷質量直接影響焊接質量，特別在5G智能手機，汽車電子等產品SMT錫膏印刷更為重要；“60%以上的工藝不良來源于錫膏的印刷環節”這句話在密間距的電子產品中就能明顯體現出它的含義。在現在一切數字化，智能化，自動化的浪潮下，智能機器人，汽車電子智能駕駛，AIOT，醫療設備等領域的小批量訂單出現了爆發式增長，對傳統的供應鏈管理造成了很大的挑戰，電子EMS制造產業自動化已成為趨勢，SMT行業也需要與時俱進。smt貼片加工AOI檢測的優點。江門半導體SPI檢測設備服務

對于PCB行業而言，從工藝、成本和客戶需求幾個角度來看對于SPI設備的需求都呈現上升趨勢：1、從技術工藝的角度看，PCB微型化導致人工目檢無法滿足要求，利用機器檢測是大趨勢；2、從生產成本的角度看，產品ASP不斷下降而人工成本卻不斷上升，優化生產流程對成本進行精細化控制是廠商在激烈競爭中生存的法門，引進自動化檢測設備是必要的選擇；3、從客戶需求的角度看，各種終端產品的復雜度不斷提升，對穩定性要求也越來越高，SPI可以有效檢測翹腳、虛焊等缺陷，增強產品可靠性，引入SPI設備是廠商爭取客戶訂單的重要砝碼。珠海高速SPI檢測設備設備廠家SPI設備用于快速、短距離的設備間數據傳輸。

莫爾條紋技術特點：1874年，科學家瑞利將莫爾條紋圖案作為一種測試手段，根據條紋形態和評價光柵尺各線紋間的間距的均勻性，從而開創了莫爾測試技術。隨著光刻技術和光電子技術水平的提高，莫爾技術獲得極快的發展，在位移測試，數字控制，伺服跟蹤，運動控制等方面有了較廣的應用。目前該技術應用在SMT的錫膏精確測量中，有著很好的優勢。莫爾條紋（即光柵）有兩個非常重要的特性：1）.判向性：當指示光柵對于固定不動主光柵左右移動時，莫爾條紋將沿著近于柵向的方向上移動，可以準確判定光柵移動的方向。2）.位移放大作用：當指示光柵沿著與光柵刻度垂直方向移動一個光柵距D時，莫爾條紋移動一個條紋間距B,當兩個等間距光柵之間的夾角θ較小時，指示光柵移動一個光距D,莫爾條紋就移動KD的距離。這樣就可以把肉眼無法的柵距位移變成了清晰可見的條紋位移，實驗了高靈敏的位移測量。這兩點技術應用在SPI中，就體現了莫爾條紋技術測量的穩定性和精細性。

在線3D-SPI（3D錫膏檢測機）在SMT生產中的作用當今元件PCB的復雜程度，己經超越人眼所能識別的能力。以往依靠人工目測對PCB質量進行檢查的方法，大多基于目檢人員的經驗和數量程度，無法達到依據質量標準進行量化評估。由此，基于機器視覺的自動光學檢測系統逐漸的替代了人工目檢，并越來越較廣的應用于SMT生產線的印刷后、貼片后、焊接后PCB外觀檢測。為何要對錫膏印刷環節進行外觀檢測：眾所周知，在SMT所有工序中，錫膏印刷工藝所產生的錫膏印刷不良，直接導致了約74%的電路板組裝不良，還與13%的電路板組裝不良有間接關系。錫膏印刷工藝的好壞，很大程度上決定了SMT工藝的品質.另外，對于PLCC、GBA等焊點隱葳在本體下的元件，以及屏敝蓋下元件，使用爐后AOI不能檢測，需要使用X-RAY才能有效檢測；而對于細小的0201、01005等元件焊接后更是難以維修，所以需要在錫膏印刷環節就使用檢測設備對錫膏印刷的質量進行實時的檢測和控制。更進一步地說，在錫膏印刷環節發現不良，能有限節約生產費用、提高生產效率。一旦在印刷后的PCB上發現不良，操作員可以立即進行返修。產品不會在繼續流入后續工序，不再浪費貼片機和回流焊爐的生產效率，更避免了爐后修理的費用。spi檢測設備在貼片打樣中的應用。

那么SPI具體是如何檢測的呢？目前SPI領域中主要的檢查方法有激光檢査和條紋光檢查兩種。其中激光方法是用點激光實現的。由于點激光加CCD取像須有X、Y逐點擔的機構，并未明顯増加量測速度。為了增加量測速度，需將點激光改成掃描式線激光光線。這兩種是經常用到的方法，此外還有360°輪廓測量理論、對映函數法測量原理( coordinate Mapping)、結構光法( Structure Lighting)、雙鏡頭立體視覺法。但這些方法會受到速度的限制而無法被應用到在線測試上，只適合單點的3D測量。PCBA工藝常見檢測設備ICT檢測。陽江高速SPI檢測設備價格行情

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結構光柵型SPIPMP又稱PSP(PhaseShiftProfilometry)技術是一種基于正弦條紋投影和位相測量的光學三維面形測量技術。通過獲取全場條紋的空間信息與一個條紋周期內相移條紋的時序信息，來完成物體三維信息的重建。由于其具有全場性、速度快、高精度、自動化程度高等特點，這種技術已在工業檢測、機器視覺、逆向工程等領域獲得廣泛應用。目前大部分的在線SPI設備都已經升級到此種技術。但是它采用的離散相移技術要求有精確的正弦結構光柵與精確的相移，在實際系統中不可避免地存在著光柵圖像的非正弦化，相移誤差與隨機誤差，它將導致計算位相和重建面形的誤差。雖然已經出現了不少算法能降低線性相移誤差，但要解決相移過程中的隨機相移誤差問題，還存在一定的困難。江門半導體SPI檢測設備服務