光電轉化攝影系統指的是光電二極管器件和與之搭配的成像系統。是獲得圖像的”眼睛”,原理都是光電二極管接受到被檢測物體反射的光線，光能轉化產生電荷，轉化后的電荷被光電傳感器中的電子元件收集，傳輸形成電壓模擬信號二極管吸收光線強度不同時生成的模擬電壓大小不同，依次輸出的模擬電壓值被轉化為數字灰階0-255值，灰階值反映了物體反射光的強弱，進而實現識別不同被檢測物體的目的光電轉化器可以分為CCD和CMOS兩種，因為制作工藝與設計不同，CCD與CMOS傳感器工作原理主要表現為數字電荷傳送的方式的不同CCD采用硅基半導體加工工藝，并設置了垂直和水平移位寄存器，電極所產生的電場推動電荷鏈接方式傳輸到模數轉換器。而CMOS采用了無機半導體加工工藝，每像素設計了額外的電子電路，每個像素都可以被定位，無需CCD中那樣的電荷移位設計，而且其對圖像信息的讀取速度遠遠高于CCD芯片，因光暈和拖尾等過度曝光而產生的非自然現象的發生頻率要低得多，價格和功耗相較CCD光電轉化器也低。但其非常明顯的缺點，作為半導體工藝制作的像素單元缺陷多，靈敏度會有問題，為每個像素電子電路提供所需的額外空間不會作為光敏區，域而且CMOS芯片表面上的光敏區域部分小于CCD芯片。AOI是新興起的一種新型測試技術，但發展迅速，很多廠家都推出了AOI測試設備。中山半導體AOI檢測設備技術參數

目前隨著集成電路和PCB印制電路板行業的發展，外加我國人工成本越來越高，電子制造企業出于對產品質量和成本控制的需求，加速了AOI檢測設備替代人工的進程。深圳市和田古德自動化設備有限公司致力研發生產的AOI配備的高清彩色全局曝光數字相機速度提升了30%，高景深遠心鏡頭可測高元件側面的焊點，支持SMT爐前，爐后以及dip的檢測額，支持0201封裝的元件檢測，真正的不停機離線編程以及程序更新、MES數據對接，同時支持多線體集中管理與遠程服務，真正實現智能化工廠。梅州直銷AOI檢測設備保養如何根據AOI的功能選擇設備？

smt貼片加工AOI檢測的優點AOI在SMT貼片加工中的使用優點：1.編程簡單。AOI通常是把貼片機編程完成后自動生成的TXT輔助文本文件轉換成所需格式的文件，從中AOI獲取位置號、元件系列號、X坐標、Y坐標、元件旋轉方向這5個參數，然后系統會自動產生電路的布局圖，確定各元件的位置參數及所需檢測的參數。完成后，再根據工藝要求對各元件的檢測參數進行微調。2.減少生產成本。由于AOI可放置在回流爐前對PCB進行檢測，可及時發現由各種原因引起的缺陷，而不必等到PCB過了回流爐后才進行檢測，這就極大降低了生產成本。3.故障覆蓋率高。由于采用了高級別的光學儀器和高智能的測試軟件，通常的AOI設備可檢測多種生產缺陷，故障覆蓋率可達到80%。4.操作容易。由于AOI基本上都采用了高度智能的軟件，所以在smt貼片加工中并不需要操作人員具有豐富的理論知識即可進行操作。使用AOI檢測設備可以減少工藝缺陷，在裝配工藝過程的早期查找和消除錯誤，以實現良好的過程控制，早期發現缺陷將避免將壞板送到隨后的裝配階段，AOI將減少修理成本避免報廢不可修理的電路板出現。

AOI設備的原理1.焊錫表面具有光的平面鏡反射性質，因此照射在焊錫表面的光，遵循入射角=反映射角方向進行反射。2.光源設計通過“紅色、綠色、藍色”不同角度的光源照射，反映被造物體的曲面的變化情況。從而達到檢測元件焊接弧度的目的。3.不同的曲面弧度上，顏色反映了弧度的變化特性。“紅光”“綠光”“藍光”的亮度強弱比例，是保證這一檢測原理的關鍵。①紅色：上錫角度相對較低時，紅光反射回像機。（1°-25°）②綠色：上錫角度相對高一些時綠光反射回像機。（25°-45°）③藍色：上錫角度較高時，藍光反射回像機。（45°以上）AOI的工作原理是什么呢？

（3）回流焊后。在SMT工藝過程的***步驟進行檢查，這是目前AOI當下流行的選擇，因為這個位置可發現全部的裝配錯誤。回流焊后檢查可以提供高度的安全性，因為它識別由錫膏印刷、元件貼裝和回流過程引起的錯誤。AOI檢測設備的作用：（1）生產與檢測同步完成，提高了整體制程效率，同時保證產品品質。(2)減少人員參與，節省人工。從PCB進入SMT生產線，到PCB流出期間全機械化操作，避免人為帶來的手動或半自動的低生產效率工作方式。(3)從原料到檢驗，全自動流程化生產過程，符合中國人一步到位的觀念。(4)AOI檢測設備的應用提高了SMT貼片的質量，避免大批量產品缺陷的出現。AOI檢測設備可檢測的錯誤類型：1、刷錫后貼片前：橋接-移位-無錫-錫不足；2、貼片后回流焊前：移位，漏料、極性、歪斜、腳彎、錯件；3、回流焊或波峰焊后：少錫/多錫、無錫短接錫球漏料-極性-移位腳彎錯件；4、PCB行業裸板檢測。貼片機生產線中AOI檢測設備的作用對于器件的檢測。茂名多功能AOI檢測設備功能

在線AOI與離線AOI的區別是什么呢？中山半導體AOI檢測設備技術參數

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